2025 年 10 月 28 日至 30 日，國際標準化組織微束分析技術委員會電子探針微量分析分技術委員會（ISO/TC 202/SC 2）第 31 屆年度會議在英國倫敦成功舉辦。本次會議由秘書處承擔單位 —— 中國有色桂林礦產地質研究院有限公司（以下簡稱 “中色桂林院”）主導，秘書處現任主席朱景和、秘書韋志偉共同主持，來自全球相關國家的委員會代表及專家齊聚一堂，共同探討電子探針微量分析國際標準。
會議伊始，朱景和在致辭中深入分析了當前電子探針技術標準的發展現狀與行業需求。他指出，國際標準化組織微束分析技術委員會電子探針微量分析分技術委員會現有標準已全面覆蓋定性、定量、面分析等通用技術領域，但隨著全球行業對 “精準化檢測”“領域化應用”的需求持續提升，標準體系需進一步向細分場景延伸。基于此，他明確提出后續工作建議：聚焦地礦樣品（如硫化物礦物）、材料樣品（金屬 / 鋼鐵微量元素、非金屬材料雜質相）等重點領域，深耕電子探針定量檢測方法制定。這一舉措不僅能顯著提升檢測結果的準確性與國際可比性，更能為發展中國家提供 “即學即用” 的技術方案，有效降低其應用研究成本、縮短技術發展周期，助力全球電子探針技術應用實現均衡發展。
隨后，韋志偉作秘書處年度工作報告，內容全面涵蓋代表團參與情況、技術委員會新增P-成員國（Participating Menbers）情況、在研國際標準項目推進細節及上屆會議決議執行成效等關鍵信息。
會上，中國專家陳振宇博士與嚴春蓮正高級工程師分別就兩項新的標準提案作了詳細介紹。這些工作旨在建立統一的國際技術方法，為相關領域的精準分析奠定基礎。
經過全體與會代表及專家的協同努力，圓滿完成各項既定議程。
會議期間，中色桂林院的代表與各方進行了廣泛而深入的交流，展現了其在國際標準化工作中的積極態度和重要貢獻。下一步，中色桂林院將繼續加強電子探針分技術委員會秘書處的建設，積極履行國際組織責任，加大人才培養力度，緊跟行業發展趨勢，爭取成為更多標準的研制者，不斷提升在國際標準微束分析領域的影響力，為電子探針標準的制修訂提供有力的組織和技術保障，為中國有色集團打造世界一流企業貢獻桂林院智慧和力量。
作為我國首次提出組建的 ISO 技術機構，ISO/TC 202 成立于 1991 年，初始名稱為 “微束分析 - 電子探針”，每年定期舉辦年度會議，下設術語（SC 1）、電子探針（SC 2）、分析電鏡（SC 3）、掃描電鏡（SC 4）等多個技術領域分委員會，在全球微束分析標準化領域發揮著核心引領作用。其中，中色桂林院自 1993 年起便擔任 ISO/TC 202/SC 2 秘書處單位，是全國最早提出承辦此類國際標準化秘書處的單位之一，長期為該領域國際標準體系建設貢獻中國力量。
